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FT80-1X/FT80-2X臺式精密在線露點儀
高純氮氣水分儀FT80-1X，99.999氮氣露點測試儀

產品介紹:

    芯片加熱：所有水分測量探頭，經過一段時間工作，由于工作環境的不良（如：油污、粉塵、腐蝕氣、酸堿氣體等），會對探頭造成傷害，引起探頭測量數據漂移產生偏差。唯一解決的辦法就是對芯片進行高溫加熱。一般加熱在160℃以上，持續幾分鐘，用于蒸發芯片上的水分及油污，保證它的零位準確度。加熱階段，露點儀停止工作。經過幾分鐘冷卻，又可進入循環測量。理論上講溫度變化與露點溫度不存在關聯。溫度僅與相對濕度有關聯，所以探頭加熱不影響露點溫度測量。

   加熱條件：我們的探頭啟動加熱條件，當外部氣體露點≤-40℃時，軟件自動開啟加熱條件。加熱溫度為170 度，持續四分鐘，然后進入冷卻階段約2 分鐘。用于探頭數據的平衡整理。為了保證探頭在-40℃以上長期干燥，我們的探頭溫度始終恒定在30℃的環境工作（溫度與露點無關），用于阻止細微的水汽與油污。所以我們有大加熱170℃與小加熱30℃。二者僅緊密結合，保證探頭始終位于干燥環境。
高純氮氣水分儀FT80-1X，99.999氮氣露點測試儀

技術參數：

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